更高的灵敏度
准确性和精密度之于工业质量和过程控制分析至关重要。WEPER XRF2510、WEPER XRF2501（移动版、集成版）、5E-XRF2500相比于其他的EDXRF：采用了尖端超薄石墨烯探测器技术、更加紧凑型的光路、微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对煤灰中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成。更高的分辨率
高光谱分辨率是准确分析复杂基体样品和轻元素的前提条件。WEPER XRF2510、WEPER XRF2501（移动版、集成版）、5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新性的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Ka线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分临近谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物（煤灰、土壤、铝土矿）以及金属合金样品的分析。
X射线荧光光谱仪技术性能要求
1 操作方便：无需复杂的样品前处理，用户仅需将样品放入测试区域，点击开始测量，稍等片刻即可获得数据。
2 分析效率高：单样测试1-15min（可根据需要调整测试时间）。
3.检测成本低：无需化学试剂等耗材，真空模式下不消耗氦气。
4.优良的分辨率和计数率：德国新一代超薄石墨烯光窗硅漂移探测器，有着更好的计数率和更好的能量分辨率，必须使用该类型探测器确保可以准确测定样品中钠镁元素的含量；并且能够充分利用50W功率光管的输出，使XRF2501具有高稳定性和灵敏度。
5 操作安全：仪器测试腔体采用厚实的铜屏蔽X射线、采用电子互锁设计、软件中断三重保护措施，确保符合国家标准GBZ 115中的要求，并提供豁免函证明。*2.6 控制屏分析主机采用一体集成式设计，以便可以降低现场测试条件要求，实现快速搬运至现场就可以测试；触屏控制软件设计简单直观、所见即所得，任何人都可以通过触屏控制软件操作仪器，使整个测试工作变得更简便快捷。
X射线荧光光谱仪
https://www.chem17.com/st685006/list_2641581.html
https://www.chem17.com/st685006/product_39856679.html
原文链接：http://xingyun.mzyin.com/news/itemid-363.shtml，转载和复制请保留此链接。
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